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  • 姓名:谭小地
  • 性别:男
  • 职称:教授
  • 学历:博士
  • 所在学科:光学工程
  • 研究方向:信息光学
  • 办公电话:010-68919660
  • 电子邮件:tan@bit.edu.cn

个人概况:
      

1个人简介

谭小地,男,1962年10月出生于西安,博士,2012年获批国家“千人计划”特聘教授,回国。现任我校教授,博士生导师长期从事光学理论教学、科研及产品开发工作。在光学信息处理、光信息存储、光学信息显示和光学测量等领域有着长期的理论研究和产品开发经验。研究方向为信息光学,主要内容包括:波动光学、光学全息、光学测量、图像处理、图像加密、光学信息处理、光子晶体、液晶显示技术、三维立体显示技术、以及数值计算和计算机控制等。

曾在日本Sony公司任高级技术分析师(Senior Technology Analyst)、主任研究员(Distinguished Engineer)、光学技术经理(Optical Technology Manager),主持过三维立体显示技术和液晶显示技术及产品的开发工作。曾在日本Optware公司任高级工程师(Senior Engineer),主持开发过新型全息式存储光盘技术。发表学术论文80多篇(其中一篇在2014年获得美国光学学会应用光学(Applied Optics)杂志“近十年被引用次数Top15”的第八名)、国际会议特邀报告20次、合作著书1本、已公开专利9项。

出国前曾担任西安工业大学讲师,主授《物理光学》和《傅立叶光学导论》课程。在索尼公司工作期间,担任面向全公司职员的“光电子学基础及应用”课程教师,与清华大学联合培养博士研究生。

担任国家外国专家局重点引智项目评审专家。国际工程光学学会(SPIE)会员、美国光学学会(OSA)会员、中国光学学会高级会员、全息与光信息处理专业委员会会员,以及国际学术会议的组委会成员。兼任Springer出版社、美国光学学会杂志《Optics Express》、《Optics Letters》和《Applied Optics》等国际学术刊物的审稿人。

1995年获得国家科技进步三等奖1项、2010年获索尼核心装置开发本部部门长赏1次。2012年获批中央组织部第七批“千人计划”特聘教授。

2教育经历

1984.7 山东大学光学系,理学学士。

1990.5 北京理工大学光学仪器系,工学硕士。

2001.3 东京大学工学系研究科,工学博士。

3工作经历

 

4研究领域

信息光学:光学信息处理、光学全息、光学信息显示技术、三维立体显示技术、光学测量、图像处理、光子晶体

5社会任职

担任国家外国专家局重点引智项目评审专家。国际工程光学学会(SPIE)会员、美国光学学会(OSA)会员、中国光学学会高级会员、全息与光信息处理专业委员会会员,以及国际学术会议的组委会成员。兼任Springer出版社、美国光学学会杂志《Optics Express》、《Optics Letters》和《Applied Optics》等国际学术刊物的审稿人。

6获奖情况

1995年获得国家科技进步三等奖1项、2010年获索尼核心装置开发本部部门长赏1次。

7科研项目

高密度信息存储的偏光全息理论及关键技术研究(61475019)国家自然科学基金,主持人,2015-2018

8论文专著

代表性论文

[1] Xiaodi Tan, Xiao Lin, Anan Wu, Jinliang Zang, “High density collinear holographic data storage system”, Front. Optoelectron. DOI/10.1007/s12200-014-0399-1 (2014).

[2] Jianhua Li, Liangcai Cao, Huarong Gu, Xiaodi Tan, Qinsheng He, and Guofan Jin, “Orthogonal-reference-pattern-modulated shift multiplexing for collinear holographic data storage,” Optics Letters, 37(5), 936-938 (2012) (第一作者为联合培养的博士生)

[3] 谭小地,堀米秀嘉,“同轴式光全息存储技术及其系统,”光学学报,Vol. 26, 827-830 (2006)

[4] Hideyoshi Holimai, Xiaodi Tan, and Jun Li, “Collinear Holography,” Appl. Opt., Vol. 44, 2575-2579 (2005)

(2014年获得该杂志“近十年被引用次数Top15”的第八名)

 

9专  利

代表性专利

[1] 譚小地,“检查光学薄膜的条状缺陷的方法和装置”(JP2009-204491) 

[2] Xiaodi Tan, “Defect inspection apparatus and defect inspection method”. (US2010869942A) 

[3] Xiaodi Tan, “Image display device and position detecting method”. (US2009557225A) 


(更新时期:2014916日)